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CIMT2017:ZEISS CT METROTOM
最后修改时间:2017-03-31 11:09

几何尺寸测量作为CT一重要应用分支,要求CT不仅需满足常规探伤所需的要求,更重要的是,要求具备测量系统分辨率高、具有可追溯性并符合权威标准的测量精度、机械系统精度高等特点,称其为工业CT坐标测量机,区别于常规三坐标测量机,其既可以实现外部尺寸测量,亦可实现内部尺寸及形位公差量测评定。

随着制造业的发展及工业要求的日益提升,工业CT坐标测量机现具有市场一致认可的先进性, ZEISS CT METROTOM通过采用坐标测量机关键高精度转台及导轨部件、核心的坐标测量控制技术、专利的坐标测量机CAA误差补偿技术、专利的几何校正技术、完善的量值溯源系统等实现了CT与三坐标测量机的完美融合(专利),确保长期可追溯性的测量精度。

蔡司METROTOM是基于CT传感器的坐标测量机,其融合X射线计算机断层扫描(CT)及三坐标测量机(CMM)的功能优势,广泛适用于无损几何尺寸测量、色差数模比对、无损内部缺陷及装配结构分析,其权威的可追溯性计量性能、核心的坐标测量机高精度部件、CAA误差补偿、自校准装置及智能测量平台等众多技术优势,确保了系统的出色精度、多功能及长久稳定性。

技术特色1:高精密机械系统

技术特色2:稳定可靠的高性能CT传感器系统

技术特色3:专利的METROTOM CAA自校准套件

技术特色4:符合权威标准并可追溯性测量精度

技术特色5:功能强大的软件平台

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